LFA測(cè)試金屬膜
金屬膜在電子領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用,比如電子產(chǎn)品的電觸點(diǎn)、大功率電子器件的散熱器。為此高導(dǎo)熱和低熱膨脹的熱物性能就顯得十分必要。金屬材料的導(dǎo)熱系數(shù)一般采用激光閃射法(LFA)測(cè)量。但是對(duì)于金屬薄膜而言,傳統(tǒng)的 LFA 方法并不合適,因?yàn)闃悠泛穸忍?。使用特殊In-Plane水平導(dǎo)熱支架則不會(huì)有樣品厚度的限制。利用LFA特殊In-Plane水平模式支架可以測(cè)得金屬膜水平方向的熱擴(kuò)散系數(shù)。由于金屬薄膜的導(dǎo)熱行為基本上可以看做是各向同性,因此也可以得到金屬膜厚度方向的導(dǎo)熱。
測(cè)試條件
溫度范圍:RT…300°C
樣品厚度:0.017/0.123 mm
樣品支架:In-plane水平支架
樣品表面噴涂:石墨
測(cè)試結(jié)果
隨著溫度升高,金屬膜的熱擴(kuò)散系數(shù)逐漸降低。為了檢查In-Plane支架測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,我們使用Laminate層壓支架來進(jìn)行驗(yàn)證試驗(yàn)(金屬膜被切成片狀,旋轉(zhuǎn)90°,厚度為2mm),結(jié)果偏差小于3%。說明此附件能夠準(zhǔn)確地檢測(cè)高導(dǎo)熱且厚度僅為幾十微米的金屬膜材料。
編譯:
朱明峰
曾智強(qiáng)
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